Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур

Черанев А. В. Методические особенности измерения температуропроводности субмикро- и нанокристаллических материалов методом термомодуляционной лазерной эллипсометрии в области низких температур / А. В. Черанев, А. А. Уймин // Метастабильные состояния и фазовые переходы : сборник научных трудов. - Екатеринбург, 1997. - Вып. 6. - 2003. - С. 117-127.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2003

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика

Вид издания: 

  • статья из сборника


h1