Рассмотрено определение среднего размера частиц, микронапряжений и степени негомогенности в компактных и дисперсных наноструктурированных веществах по уширению дифракционных отражений. Описан метод разделения вкладов в уширение, обусловленных малым размером частиц, микронапряжениями и негомогенностью вещества. Применение метода проиллюстрировано на нанокрнсталлическом порошке карбида вольфрама WC.