Полевая ионная микроскопия как метод исследования структурных изменений металлов и сплавов при ионной имплантации

Сюткин Н. Н. Полевая ионная микроскопия как метод исследования структурных изменений металлов и сплавов при ионной имплантации / Н. Н. Сюткин // Радиационная физика металлов и сплавов : четвертый Международный Уральский Семинар, 25 февраля - 3 марта 2001 г., Снежинск, Россия. - Снежинск, Россия, 2001. - С. 3-4.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2001

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика

Вид издания: 

  • тезисы


h1