Картапова Т. С. Применение методов электронной спектроскопии для исследования тонких пленок и ионно-модифицированных материалов / Т. C. Картапова, П. В. Быков, Ф. З. Гильмутдинов // Радиационная физика металлов и сплавов : пятнадцатый Международный Уральский Семинар, 26 февраля - 1 марта, Кыштым, Россия. - Кыштым, 2024. - С. 93-94.