Применение оптических методов для контроля качества ВТСП-слоев сверхпроводящих кабелей второго поколения / А. В. Телегин, Ю. П. Сухоруков, Е. А. Ганьшина, О. В. Мельников // VIII Молодежная школа-семинар по проблемам физики конденсированного состояния вещества, 19-25 ноября 2007 г. : тезисы докладов. - Екатеринбург, 2007. - С. 74-75.