Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) в исследованиях поверхности биогенного апатита

Главатских С. П. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) в исследованиях поверхности биогенного апатита / С. П. Главатских, Д. В. Киселева, Н. О. Садыкова // Петрогенезис и рудообразование : материалы науч. конф. в честь 70-летия Института геологии и геохимии УрО РАН, 20-22 октября 2009 г. / РАН, УрО, Ин-т геологии и геохимии им. акад. А. Н. Заварицкого [и др.]. - Екатеринбург, 2009. - С. 342-345.

Год: 

2009

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Науки о Земле

Вид издания: 

  • статья из сборника трудов конференции


h1