Soft X-Ray Emission Spectroscopy Study of Solid-State Reactions in Interfaces

Galakhov V. R. Soft X-Ray Emission Spectroscopy Study of Solid-State Reactions in Interfaces / V. R. Galakhov, S. N. Shamin, E. Z. Kurmaev // 3rd Russian-German Seminar on Electron and X-ray Spectroscopy, September 15-19, 1999, Yekaterinburg, Russia : Program and Abstracts. - Yekaterinburg, 1999. - P. 33.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

1999

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика, Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1