Стрекаловский В. Н. Совместное использование микроспектроскопии КРС и сканирующей электронной микроскопии в материаловедении оксидов высокотемпературных электрохимических устройств / В. Н. Стрекаловский, Э. Г. Вовкотруб, В. Б. Малков // Физическая химия и электрохимия твердых электролитов. Прикладные аспекты электрохимии : тезисы докладов XIV Российской конференции (с международным участием), 10-14 сентября 2007 г. - Екатеринбург, 2007. - Т. II. - С. 121.