The Study of Parameters on the Nearest Atomic Surrounding in Siliciumj Thin Surface Layers by the EELFS Method / D. V. Sumin, D. E. Guy, A. N. Deev [et al.] // 3rd Russian-German Seminar on Electron and X-ray Spectroscopy, September 15-19, 1999, Yekaterinburg, Russia : Program and Abstracts. - Yekaterinburg, 1999. - P. 76.
Документ доступен в ЦНБ УрО РАН:
Нет
Год:
1999
Связанные персоналии:
Нет
Рубрики:
- Физика, Химические науки
Вид издания:
- тезисы