Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция как метод исследования поверхности. Практические приложения / М. В. Кузнецов и др. // Физика низкоразмерных систем и поверхностей Low Dimensional Systems (LDS-2008) : труды первого Международного междисциплинарного симпозиума (5-9 сент. 2008 г., Ростов-на-Дону - п. Лоо). - Ростов-на-Дону, 2008. - C. 164-167.