Стрекаловский В. Н. Диагностика нановеществ методами сканирующей электронной микроскопии и микро-Раман-спектроскопии / В. Н. Стрекаловский, В. Б. Малков, Э. Г. Вовкотруб // Урало-Сибирская научно-промышленная конференция : материалы докладов (19-23 июня 2007 года, г. Екатеринбург). - Екатеринбург, 2007. - C. 317-318.