Сравнительный анализ микрорельефа поверхности методами РЭМ, СТМ и ACM

Сравнительный анализ микрорельефа поверхности методами РЭМ, СТМ и ACM / И. Г. Григоров, Н. А. Хлебников, Е. В. Поляков, Ю. Г. Зайнулин // Термодинамика и материаловедение : тезисы докладов шестого семинара СО РАН - УрО РАН, 17-19 октября 2006 г. - Екатеринбург, 2006. - С. 46.

Год: 

2006

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1