Прямой метод измерения магнитных параметров тонких пленок с помощью торсионного магнитометра / И. М. Сараево, Т. Н. Летова, Л. М. Коренкова, Л. М. Антонов // Новые магнитные материалы микроэлектроники : тезисы докладов XV Всероссийской школы - семинара, 18-21 июня 1996 г., Москва. - Москва, 1996. - С. 511.