Токи обмена и емкости двойного электрического слоя на границе стеклоуглерод/ионно-электронный расплав CuCl - CuCl2 - CsCl (Ncscl = 0-1)

Токи обмена и емкости двойного электрического слоя на границе стеклоуглерод/ионно-электронный расплав CuCl - CuCl2 - CsCl (Ncscl = 0-1) / П. Ю. Шевелин, И. С. Проскурнев, Н. Г. Молчанова, Н. Н. Баталов // Теория и практика электрохимических технологий. Современное состояние и перспективы развития : тезисы докладов научно-практической конференции, посвященной 80-летию кафедры "Технология электрохимических производств" Уральского государственного технического университета - УПИ. - Екатеринбург, 2003. - C. 109-111.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2003

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1