Применение методики ядерного микроанализа для исследования поверхностных точечных дефектов в нанопорошках диоксида титана

Применение методики ядерного микроанализа для исследования поверхностных точечных дефектов в нанопорошках диоксида титана / В. Б. Выходец и др. // XIV Всероссийская школа-семинар по проблемам физики конденсированного состояния вещества (СПФКС-14) (20-26 ноября 2013 года) : тез. докл. / РАН, УрО, Ин-т физики металлов и др. - Екатеринбург, 2013. - С. 227.

Год: 

2013

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика

Вид издания: 

  • тезисы


h1