Гуляев Павел Валентинович


h1

Библиография

Библиография

ФИЛЬТРЫ:

Публичные страницы Название Описание Вид издания Год Роли
Адаптивное сканирование образцов в методах туннельной микроскопии Адаптивное сканирование образцов в методах туннельной микроскопии / А. М. Липанов, С. Р. Кизнерцев, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев // Международная конференция по внутрикамерным процессам и горению "Проблемы конверсии и экологии энергетических материалов" (ICOC-96), Россия, Санкт-Петербург, 3-7 июня 1996 г. : в 2 частях. - Ижевск, 1997. - Ч. 2. - С. 537-543. доклад 1997 Автор
Пути повышения производительности сканирующего туннельного микроскопа Липанов А. М. Пути повышения производительности сканирующего туннельного микроскопа / А. М. Липанов, П. В. Гуляев, Н. И. Осипов // Кластерные системы и материалы. Новые высокие технологии быстрого моделирования и прототипирования : сборник трудов по материалам научных молодежных школ. - Ижевск, 1997. - С. 154-159. статья из сборника трудов конференции 1997 Автор
Адаптивное считывание информации в туннельном микроскопе Шелковников Ю. К. Адаптивное считывание информации в туннельном микроскопе / Ю. К. Шелковников, П. В. Гуляев, С. Р. Кизнерцев // Информационно-измерительные системы на базе наукоемких технологий (по целевой федеральной программе "Интеграция" октябрь-ноябрь 1998 г.) : труды научно-молодежной школы. - Ижевск, 1998. - С. 108-111. доклад 1998 Автор
Алгоритм сближения образца и иглы сканирующего туннельного микроскопа Гуляев П. В. Алгоритм сближения образца и иглы сканирующего туннельного микроскопа / П. В. Гуляев // Информационно-измерительные системы на базе наукоемких технологий (по целевой федеральной программе "Интеграция" октябрь-ноябрь 1998 г.) : труды научно-молодежной школы. - Ижевск, 1998. - С. 87-89. доклад 1998 Автор
Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Е. Ю. Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов / Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Д. В. Гудцов // Проблемы термогазодинамики и прочности механических систем. - Ижевск : [Изд-во Ин-та прикладной механики УрО РАН], 2005. - С. 199-209. статья из сборника 2005 Автор
Программно-аппаратное обеспечение сканирующего туннельного микроскопа для контроля геометрических параметров наночастиц Программно-аппаратное обеспечение сканирующего туннельного микроскопа для контроля геометрических параметров наночастиц / Ю. К. Шелковников и др. // Байкальские чтения: наноструктурированные системы и актуальные проблемы механики сплошной среды (теория и эксперимент): тезисы докладов научной конференции (19-22 июля 2010 ; Улан-Удэ) / РАН, УрО, Ин-т прикладной механики [и др.]. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2010. - С. 31-33. тезисы 2010 Автор
Строки с 1 по 6 из 6