Адаптивное сканирование образцов в методах туннельной микроскопии / А. М. Липанов, С. Р. Кизнерцев, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев // Международная конференция по внутрикамерным процессам и горению "Проблемы конверсии и экологии энергетических материалов" (ICOC-96), Россия, Санкт-Петербург, 3-7 июня 1996 г. : в 2 частях. - Ижевск, 1997. - Ч. 2. - С. 537-543.