Шелковников Евгений Юрьевич


h1

Библиография

Библиография

ФИЛЬТРЫ:

Публичные страницы Название Описание Вид издания Год Роли
Адаптивное сканирование образцов в методах туннельной микроскопии Адаптивное сканирование образцов в методах туннельной микроскопии / А. М. Липанов, С. Р. Кизнерцев, Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев // Международная конференция по внутрикамерным процессам и горению "Проблемы конверсии и экологии энергетических материалов" (ICOC-96), Россия, Санкт-Петербург, 3-7 июня 1996 г. : в 2 частях. - Ижевск, 1997. - Ч. 2. - С. 537-543. доклад 1997 Автор
Применение туннельной микроскопии и спектроскопии для исследования кластерных материалов Липанов А. М. Применение туннельной микроскопии и спектроскопии для исследования кластерных материалов / А. М. Липанов, Е. Ю. Шелковников, С. Р. Кизнерцев // Кластерные системы и материалы. Новые высокие технологии быстрого моделирования и прототипирования : сборник трудов по материалам научных молодежных школ. - Ижевск, 1997. - С. 179-184. статья из сборника трудов конференции 1997 Автор
Исследование параметров туннельного микроскопа с применением метода Монте-Карло Шелковников Е. Ю. Исследование параметров туннельного микроскопа с применением метода Монте-Карло / Е. Ю. Шелковников // Информационно-измерительные системы на базе наукоемких технологий (по целевой федеральной программе "Интеграция" октябрь-ноябрь 1998 г.) : труды научно-молодежной школы. - Ижевск, 1998. - С. 95-102. доклад 1998 Автор
Программный пакет СТМ-W для туннельного микроскопа Шелковников Е. Ю. Программный пакет СТМ-W для туннельного микроскопа / Е. Ю. Шелковников, М. Н. Коротаев // Информационно-измерительные системы на базе наукоемких технологий (по целевой федеральной программе "Интеграция" октябрь-ноябрь 1998 г.) : труды научно-молодежной школы. - Ижевск, 1998. - С. 103-107. доклад 1998 Автор
Специализированный сканирующий туннельный микроскоп для изучения кластерных материалов на базе сигнального процессора Шелковников Е. Ю. Специализированный сканирующий туннельный микроскоп для изучения кластерных материалов на базе сигнального процессора / Е. Ю. Шелковников, Д. В. Гудцов, С. Р. Кизнерцев // Проблемы термогазодинамики и прочности механических систем. - Ижевск : [Изд-во Ин-та прикладной механики УрО РАН], 2005. - С. 187-198. статья из сборника 2005 Автор
Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Е. Ю. Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов / Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Д. В. Гудцов // Проблемы термогазодинамики и прочности механических систем. - Ижевск : [Изд-во Ин-та прикладной механики УрО РАН], 2005. - С. 199-209. статья из сборника 2005 Автор
Исследование алгоритмов прогнозирования положения сканирующего зонда туннельного микроскопа Шелковников Е. Ю. Исследование алгоритмов прогнозирования положения сканирующего зонда туннельного микроскопа / Е. Ю. Шелковников, М. Р. Гафаров, А. С. Суворов // Информационные системы в промышленности и образовании : сборник трудов молодых ученых / ИжГТУ, Каф. вычислит. техники. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2006. - Вып. 3. - 2008. - С. 151-155. статья из сборника 2008 Автор
Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Е. Ю. Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом : монография / Е. Ю. Шелковников ; РАН, УрО, Ин-т прикладной механики. - Ижевск, 2008. - 250 с. монография 2008 Автор
Методика исследования непроводящих поверхностей сканирующим туннельным микроскопом Методика исследования непроводящих поверхностей сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников и др. // Байкальские чтения: наноструктурированные системы и актуальные проблемы механики сплошной среды (теория и эксперимент): тезисы докладов научной конференции (19-22 июля 2010 ; Улан-Удэ) / РАН, УрО, Ин-т прикладной механики [и др.]. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2010. - С. 43-45. тезисы 2010 Автор
Особенности контроля дисперсности наночастиц сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Е. Ю. Особенности контроля дисперсности наночастиц сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников, С. И. Липанов // Труды Института механики УрО РАН "Проблемы механики и материаловедения" : материалы конференции "Актуальные проблемы математики, механики, информатики", Ижевск, 3-5 марта 2014 г. / РАН, УрО, Ин-т механики УрО РАН ; гл. ред. В. Б. Дементьев. - Ижевск, 2014. - С. 223-230. статья из сборника трудов конференции 2014 Автор

Страницы
Строки с 1 по 10 из 11