Шелковников Евгений Юрьевич

Коллекции:
Нет

h1

Библиография

Библиография

ФИЛЬТРЫ:

Публичные страницы Название Описание Вид издания Год Роли
Специализированный сканирующий туннельный микроскоп для изучения кластерных материалов на базе сигнального процессора Шелковников Е. Ю. Специализированный сканирующий туннельный микроскоп для изучения кластерных материалов на базе сигнального процессора / Е. Ю. Шелковников, Д. В. Гудцов, С. Р. Кизнерцев // Проблемы термогазодинамики и прочности механических систем. - Ижевск : [Изд-во Ин-та прикладной механики УрО РАН], 2005. - С. 187-198. статья из сборника 2005 Автор
Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Е. Ю. Технологичекие особенности изготовления измерительной головки туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов / Е. Ю. Шелковников, П. В. Гуляев, Д. В. Гудцов // Проблемы термогазодинамики и прочности механических систем. - Ижевск : [Изд-во Ин-та прикладной механики УрО РАН], 2005. - С. 199-209. статья из сборника 2005 Автор
Исследование алгоритмов прогнозирования положения сканирующего зонда туннельного микроскопа Шелковников Е. Ю. Исследование алгоритмов прогнозирования положения сканирующего зонда туннельного микроскопа / Е. Ю. Шелковников, М. Р. Гафаров, А. С. Суворов // Информационные системы в промышленности и образовании : сборник трудов молодых ученых / ИжГТУ, Каф. вычислит. техники. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2006. - Вып. 3. - 2008. - С. 151-155. статья из сборника 2008 Автор
Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Е. Ю. Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом : монография / Е. Ю. Шелковников ; РАН, УрО, Ин-т прикладной механики. - Ижевск, 2008. - 250 с. монография 2008 Автор
Методика исследования непроводящих поверхностей сканирующим туннельным микроскопом Методика исследования непроводящих поверхностей сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников и др. // Байкальские чтения: наноструктурированные системы и актуальные проблемы механики сплошной среды (теория и эксперимент): тезисы докладов научной конференции (19-22 июля 2010 ; Улан-Удэ) / РАН, УрО, Ин-т прикладной механики [и др.]. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2010. - С. 43-45. тезисы 2010 Автор
Особенности контроля дисперсности наночастиц сканирующим туннельным микроскопом Шелковников Е. Ю. Особенности контроля дисперсности наночастиц сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников, С. И. Липанов // Труды Института механики УрО РАН "Проблемы механики и материаловедения" : материалы конференции "Актуальные проблемы математики, механики, информатики", Ижевск, 3-5 марта 2014 г. / РАН, УрО, Ин-т механики УрО РАН ; гл. ред. В. Б. Дементьев. - Ижевск, 2014. - С. 223-230. статья из сборника трудов конференции 2014 Автор
Особенности разработки и применения информационно-измерительной системы для изучения прочностных характеристик композитных материалов Особенности разработки и применения информационно-измерительной системы для изучения прочностных характеристик композитных материалов / Е. Ю. Шелковников, А. И. Кириллов, Н. И. Осипов, С. Р. Кизнерцев, К. С. Ермолин // Труды Института механики УрО РАН "Проблемы механики и материаловедения" : [основные результаты научной деятельности Института механики УрО РАН за 2015 г. : сб. ст.] / РАН, УрО, Ин-т механики ; гл. ред. В. Б. Дементьев, отв .ред. М. А. Корепанов. - Ижевск : [ИМ УрО РАН], 2016. - С. 317-326. статья из сборника трудов конференции 2016 Автор
Строки с 1 по 7 из 7