Алгоритм сближения образца и иглы сканирующего туннельного микроскопа

Гуляев П. В. Алгоритм сближения образца и иглы сканирующего туннельного микроскопа / П. В. Гуляев // Информационно-измерительные системы на базе наукоемких технологий (по целевой федеральной программе "Интеграция" октябрь-ноябрь 1998 г.) : труды научно-молодежной школы. - Ижевск, 1998. - С. 87-89.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

1998

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Техника. Технические науки

Вид издания: 

  • доклад


h1