Исследование низкотемпературных электронных свойств Si-Si1-xGex гетероструктур электрическими и электрофизическими методами / Л. К. Орлов, А. В. Потапов, Н. Л. Ивина [и др.] // 33-е Всероссийское совещание по физике низких температур : тезисы докладов cекций S и N: «Сверхпроводимость» и «Наноструктуры и Низкоразмерные Системы», Екатеринбург, 17-20 июня 2003 г. - Екатеринбург, 2003. - С. 304-305.