Люминесцентная дефектоскопия радиационных повреждений в ионно-имплантированных слоях SiO2 / С. В. Горбунов, Д. А. Зацепин, Э. З. Курмаев [и др.] // XVII Российская научно-техническая конференция с международным участием «Неразрушающий контроль и диагностика» : тезисы докладов, г. Екатеринбург, УГТУ-УПИ 5-11 сентября 2005 г. - Екатеринбург, 2005. - С. 172.