Применение туннельной микроскопии и спектроскопии для исследования кластерных материалов

Липанов А. М. Применение туннельной микроскопии и спектроскопии для исследования кластерных материалов / А. М. Липанов, Е. Ю. Шелковников, С. Р. Кизнерцев // Кластерные системы и материалы. Новые высокие технологии быстрого моделирования и прототипирования : сборник трудов по материалам научных молодежных школ. - Ижевск, 1997. - С. 179-184.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

1997

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Техника. Технические науки, Химические науки

Вид издания: 

  • статья из сборника трудов конференции


h1